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位移测量传感器
位移测量传感器 OD Precision
OD Precision 是用于测量高要求表面质量、高精准度的光学测量系统。除了测量高亮或深黑的表面,它还能测量半透明和全透明的材料。另一项创新是能够将最多三个传感器头连接至评价单元,例如用于表面的平整度测量。为降低投资成本,也可以使用 RS-422 以及在没有评价单元的…
位移测量传感器 OD Max
OD Max 是一款高精度的光学测量系统,该系统由一个评价单元上的一个或两个传感器头组成。该传感器方案实现了通过最简单的方式计算两个测量结果。即使绝对位置发生变化,借助差值测量可以确定例如物体的厚度或高度差。与极高精度和测量频率的组合,使 OD Max 成为高要求测…
位移测量传感器 Profiler
位移测量传感器 Profiler 2 以高精度测量 x 轴和 z 轴以及复杂对象的表面。在单次测量中,可以同时对多达四个区域进行分析。对于每个区域均可选择十个内置测量功能之一,例如高度或宽度。Profiler 2 中集成的评价单元节省了安装时间及安装成本。因此,该传感器是用于型面…
位移测量传感器 OD Mini
简便、精确并且经济地完成测量任务:位移测量传感器 OD Mini 以其紧凑坚固的外壳而受到瞩目,铝质或坚固的不锈钢外壳结构形式均可供使用。它配有最新的 CMOS 接收技术 – 用于精确测量,不受表面材料颜色和亮度的影响。集成的放大器单元允许 OD Mini 单独进行工作。对于更…
位移测量传感器 OD5000
作为应对高精度测量任务的专家,位移测量传感器 OD5000 能够为各种各样的应用提供解决方案。凭借高达 80 kHz 的测量频率,OD5000 也可以微米级精度对快速旋转的被测物体予以测量。创新型评价算法实现在各种表面上以极高的重复精度稳定测量。此外,OD5000 仅用一个传感器头…
位移测量传感器 OL1
OL1 光学测微计因其微型结构而备受青睐,即使机器间距极小仍具有充足的安装空间。凭借 LED 校准辅助装置与集成在 AOD1 评价单元中的光带校准功能,可轻而易举地安装和校准发射与接收单元。OL1 传感器在高度精确的纠偏控制方面极具优势,例如针对电池生产中电极材料的重复…
位移测量传感器 OC Sharp
OC Sharp 是基于彩色共焦测量技术、高精度的光学距离传感器。该测量技术能精确到毫微米地测量不同(从黑色至透明)的材料。可以同时进行(例如玻璃)的厚度测量。该测量技术使用不带电子元件的被动型传感器头。这实现了可靠且不受干扰(如电磁兼容性)的测量。
精准汽运,采用高安全系数车辆可以直达全国。