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OD Max 是一款高精度的光学测量系统，该系统由一个评价单元上的一个或两个传感器头组成。

该传感器方案实现了通过最简单的方式计算两个测量结果。即使绝对位置发生变化，借助差值测量可以确定例如物体的厚度或高度差。

与极高精度和测量频率的组合，使 OD Max 成为高要求测量任务的理想解决方案。

概览

• 多种测量范围：从 24 mm ... 26 mm 至 250 mm ... 450 mm

• 使用 CMOS 接收元件进行不受表面限制的测量

• 高测量频率和高线性度

• 用于两个传感器进行计算的不同计算公式

• 用于极准确测量和识别极小的物体的激光技术

• 多种输出方法

技术参数

• 测量范围：24 mm ... 450 mm    

• 线性度： ± 2 µm ... ± 200 µm    

• 重复精度    

- 0.1 µm

- 1 µm

- 5 µm

- 50 µm

• 响应时间：≥ 0.5 ms    

• 测量频率：≤ 10 kHz    

• 数字输出：5 x PNP, NPN    

• 串行：RS-232, 可选通过外部处理器    

• 模拟输出端

- 数量：2

- 类型：电流输出    

• 运行环境温度：–10 °C ... +45 °C    

• 存储环境温度：–20 °C ... +60 °C